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射線檢測（X-ray）通常用于檢測焊接質(zhì)量，包括BGA（Ball Grid Array）焊接的質(zhì)量。X射線檢測可以檢測到一些焊接缺陷，例如虛焊、焊點(diǎn)冷焊、焊點(diǎn)錯位等問題。虛焊是指焊點(diǎn)與焊盤之間存在空隙或者不完全焊接的情況。X射線檢測可以幫助檢測這種問題。具體來說，X射線檢測通過將X射線穿透焊接接頭，然后在檢測器上捕捉X射線的影像。如果存在虛焊或空隙，X射線影像通常會顯示出明顯的缺陷，這可以幫助質(zhì)檢人員確定焊接是否合格。

2024-04-01 14:17:23

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BGA（Ball Grid Array）芯片是一種常用的電子元件，它具有高密度、高可靠性和高性能等特點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品中。由于BGA焊點(diǎn)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和連接情況不易觀察，因此需要采用非破壞性檢測技術(shù)來評估其質(zhì)量和可靠性。

2024-04-01 14:17:01

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元器件內(nèi)部目檢是電子元器件生產(chǎn)過程中的一個重要環(huán)節(jié)，它能夠有效地保證元器件的質(zhì)量和性能，從而保障電子產(chǎn)品的品質(zhì)和可靠性。在進(jìn)行元器件內(nèi)部目檢時，需要注意一些重要事項(xiàng)，以確保檢測的準(zhǔn)確性和有效性。下面是一些元器件內(nèi)部目檢的注意事項(xiàng)。

2024-03-29 10:41:10

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檢測報(bào)告是指對產(chǎn)品、物質(zhì)或服務(wù)進(jìn)行檢測、測試、分析后所編制的報(bào)告。在現(xiàn)代商業(yè)環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)成功的關(guān)鍵因素之一。為了確保產(chǎn)品符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、滿足消費(fèi)者需求，并在市場競爭中脫穎而出，企業(yè)需要依靠各種質(zhì)量管理手段，其中檢測報(bào)告作為質(zhì)量保證的重要組成部分，扮演著至關(guān)重要的角色。

2024-03-29 10:40:52

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高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品）的高低溫度 。

2024-03-28 16:37:12

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傳感器是現(xiàn)代科技中不可或缺的一部分，它們廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，如汽車、航空航天、醫(yī)療、工業(yè)制造等。然而，隨著傳感器的使用時間增長，它們可能會出現(xiàn)故障或損壞，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確或完全失效。因此，如何測量傳感器的好壞變得尤為重要。

2024-03-28 16:37:08

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在芯片封裝前，對芯片內(nèi)部進(jìn)行目檢是必要的步驟，以確保封裝后芯片的質(zhì)量和可靠性。目檢可以有效地檢測芯片內(nèi)部的缺陷、異物、瑕疵等，從而避免在封裝過程中引入更多問題。因此，芯片內(nèi)部目檢是芯片封裝前必須要做的工作。

2024-03-27 17:28:09

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薄膜電阻率測量是材料科學(xué)和電子工程領(lǐng)域中一項(xiàng)重要的實(shí)驗(yàn)技術(shù)。通過測量薄膜的電阻率，我們可以了解材料的導(dǎo)電性能，進(jìn)一步評估其在實(shí)際應(yīng)用中的可行性。本文將詳細(xì)介紹薄膜電阻率測量的基本原理、測量方法以及在實(shí)際應(yīng)用中的案例，以幫助讀者更好地理解和應(yīng)用該技術(shù)。

2024-03-27 17:28:07

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X 射線檢測是一種不破壞檢測物體本身的一種無損檢測方法，已廣泛應(yīng)用于材料檢驗(yàn)(QC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證和可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。

2024-03-26 17:25:34

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薄膜電導(dǎo)率測試是材料科學(xué)領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要技術(shù)，它用于評估薄膜材料的導(dǎo)電性能。電導(dǎo)率是衡量材料導(dǎo)電能力的一個重要參數(shù)，它表示材料在單位長度和單位截面積下的電導(dǎo)能力。對于薄膜材料而言，電導(dǎo)率的測試不僅有助于了解其導(dǎo)電性能，還可以為材料的應(yīng)用提供重要依據(jù)。

2024-03-26 17:25:22

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